Análisis microscópico de la superficie
Análisis microscópico de la superficie
El análisis microscópico de superficie es el uso de microscopios, microscopios electrónicos de escaneo y microscopios electrónicos de transmisión para observar la superficie, la fractura,y otras secciones de interés de la muestra a gran aumentoPor ejemplo, la morfología de la superficie, la morfología de fracturas, la estructura metalográfica, la estructura en capas microscópicas y otros elementos de prueba que requieren una observación de gran aumento.
Laboratorio de análisis microscópico de superficie
Rango de aplicaciones
Componentes electrónicos, electrónica de automóviles, médicos, comunicaciones, teléfonos móviles, ordenadores, eléctricos, etc.
Función y significado
A través del análisis microscópico de la morfología del material, los ingenieros pueden predecir eficazmente el rendimiento de los materiales, para juzgar mejor el alcance de aplicación y la vida útil segura de los materiales.Hoy en día, con el continuo desarrollo de la ciencia y la tecnología, los métodos de análisis de materiales también se están mejorando y diversificando constantemente.Los investigadores pueden explorar el mundo microscópico de los materiales con instrumentos más sofisticados y tecnologías avanzadas.
Aplicación del análisis microscópico de superficie
1- Proporcionar observación y análisis de las microestructuras superficiales y transversales;
2. Proporcionar una medición y un marcado precisos del espesor de la película para muestras de estructuras multicapa;
3El contraste de imagen pasivo (PVC) por escaneo de haz de electrones de baja energía puede localizar con precisión el daño de los componentes con mala fuga o contacto deficiente, y proporcionar un juicio de análisis anormal;
4Las muestras se proporcionan con SEM para disparar y coser automáticamente el circuito a través de la tecnología de eliminación de capas (Delayers),y los archivos de imagen generados se pueden vincular verticalmente con las imágenes generadas por microscopio óptico, que proporciona una referencia para la ingeniería inversa de restauración de circuitos.
Análisis microscópico de la superficie
Análisis microscópico de la superficie
El análisis microscópico de superficie es el uso de microscopios, microscopios electrónicos de escaneo y microscopios electrónicos de transmisión para observar la superficie, la fractura,y otras secciones de interés de la muestra a gran aumentoPor ejemplo, la morfología de la superficie, la morfología de fracturas, la estructura metalográfica, la estructura en capas microscópicas y otros elementos de prueba que requieren una observación de gran aumento.
Laboratorio de análisis microscópico de superficie
Rango de aplicaciones
Componentes electrónicos, electrónica de automóviles, médicos, comunicaciones, teléfonos móviles, ordenadores, eléctricos, etc.
Función y significado
A través del análisis microscópico de la morfología del material, los ingenieros pueden predecir eficazmente el rendimiento de los materiales, para juzgar mejor el alcance de aplicación y la vida útil segura de los materiales.Hoy en día, con el continuo desarrollo de la ciencia y la tecnología, los métodos de análisis de materiales también se están mejorando y diversificando constantemente.Los investigadores pueden explorar el mundo microscópico de los materiales con instrumentos más sofisticados y tecnologías avanzadas.
Aplicación del análisis microscópico de superficie
1- Proporcionar observación y análisis de las microestructuras superficiales y transversales;
2. Proporcionar una medición y un marcado precisos del espesor de la película para muestras de estructuras multicapa;
3El contraste de imagen pasivo (PVC) por escaneo de haz de electrones de baja energía puede localizar con precisión el daño de los componentes con mala fuga o contacto deficiente, y proporcionar un juicio de análisis anormal;
4Las muestras se proporcionan con SEM para disparar y coser automáticamente el circuito a través de la tecnología de eliminación de capas (Delayers),y los archivos de imagen generados se pueden vincular verticalmente con las imágenes generadas por microscopio óptico, que proporciona una referencia para la ingeniería inversa de restauración de circuitos.